Hochschule Düsseldorf
University of Applied Sciences
Fachbereich Elektro- & Informationstechnik
Faculty of Electrical Engineering & Information Technology

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Elektro- und Informationstechnik / Exkursion
25.10.2018

Exkursion zum Frauenhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme

​​​​​​Exkursion des Fachbereichs Elektro- und Informationstechnik zum Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme in Duisburg

Am 22.10.2018 fand unter Leitung von Prof. Dr.-Ing. Bernhard Rieß eine Exkursion des Fachbereichs Elektro- und Informationstechnik zum Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme (IMS) nach Duisburg statt. Insgesamt 12 Studierende besuchten das Institut, an dem sowohl Halbleiter entwickelt, wie auch gefertigt werden.

Nach der Begrüßung und einem Überblick über die verschiedenen Einstiegsmöglichkeiten sowohl als Student, wie auch als Absolvent gab uns das Institut Einblick in drei ausgewählte technische Entwicklungsprojekte:

  • Ein induktiver Positionsgeber mit funktionaler Sicherheit wurde für Autos mit Elektroantrieb entwickelt, um die exakte Rotorposition des Elektromotors auch unter schwierigen Bedingungen (großer Temperaturbereich, Schmutz, EMV) sicher bestimmen zu können.
  • Ein seismischer Schwingungsmesser, der zur Ortung von Erdöllagerstätten eingesetzt wird.
  • Ein LIDAR-basierter 3D-Scanner der zur Wahrnehmung der Umgebung von autonomen Fahrzeugen eingesetzt werden soll.
 

Alle drei Entwicklungsprojekte wurden anhand von ausführlichen Demos veranschaulicht. Der 3D-LIDAR Scanner wurde sogar anhand eines kleinen Rovers, das sich autonom im Raum bewegen kann demonstriert.


​Vielfach ergaben sich dabei unmittelbare Zusammenhänge zu aktuellen Lehrveranstaltungen an der HS Düsseldorf und somit direkte Anknüpfungspunkte für die Studierenden.
Die Studierenden nutzten die Gelegenheit zu Fragen und vor allem zum Kontaktaufbau für anstehende Praxisprojekte, Bachelor- oder Masterarbeiten.


​​​Studierende des Fachbereichs Elektro- und Informationstechnik zusammen mit Prof. Dr. Rieß vor dem Besuch beim Fraunhofer IMS. Foto: Jakob Sebov​