Hochschule Düsseldorf
University of Applied Sciences
Fachbereich Elektro- & Informationstechnik
Faculty of Electrical Engineering & Information Technology

Verzeichnis wissenschaftlicher Arbeiten, Veröffentlichungen und Patente

1.      Fiege G.B.M., Feige V., Phang J.C.H., Maywald M., Görlich S. and Balk L.J.:
Failure analysis of integrated devices by Scanning Thermal Microscopy (SThM),
Microelectronics and Reliability 38 (6-8): 957-961, Jun.-Aug. 1998

2.      DE10242749 (A1)
Titel: Dreidimensionales interferometrisches Positions-Messsystem,
Anmelder: Bergische Universität Wuppertal; Erfinder: Feige V.K.S. und Balk L.J.
Anmeldedatum 13.09.2002, Veröffentlichungsdatum 08.04.2004

3.      Geräteausstellung auf dem Tag der Forschung der Bergischen Universität Wuppertal
des Campus Freudenberg:
Nano-Prober: Vermessen von Strukturen im Nanometerbereich
für die Analyse von 300 mm ­ Wafern,
21. September 2002, Hörsaalgebäude FZH, Stand FB13/Balk

4.      Geräteausstellung auf der Hannover Messe 2003 (Industriemesse)
Gemeinschaftsstand Forschungsland NRW:
Nano-Prober: Vermessen von Strukturen im Nanometerbereich für die
Analyse von 300 mm ­ Wafern,
7. – 12. April 2003, Halle 18, Stand M12, 1.OG.

5.      Feige V.K.S. and Balk L.J.:
Calibration of a scanning probe microscope by the use of an
interference - holographic position measurement system,
Measurement, Science and Technology 14 (2003), 1032-1039

6.      Feige V.K.S:
Nanometrische Positionsbestimmung mittels Interferenz-Holographie,
Dissertation an der Bergischen Universität Wuppertal (2003)

7.      WO2004033989 (A1) in Verbindung mit DE10242749 (A1)
Determining the position of an object using a three-dimensional interference grid,
Anmelder: Bergische Universität Wuppertal; Erfinder: Feige V.K.S. und Balk L.J.:
Anmeldedatum 19.07.2003, Veröffentlichungsdatum 22.04.2004

8.      Feige V.K.S., Heiderhoff R. and Balk L.J.:
Development of a large area scanning probe microscope with an integrated interference-holographic position measurement system, VDI Bericht Nr. 1803 (2003), 305-310

9.      Feige V.K.S.:
Kontrolle des Korrosionsschutzes von Stahlbrücken an kritischen Stellen mit Hilfe eines Schichtdickenmessgerätes, Stahlbau 76 (2007), Heft 4, 271-274

10.  Feige V.K.S.:
Komplexes einfach prüfen: Kontrolle des Korrosionsschutzes von Stahlbrücken mittels moderner Schichtdickenmessgeräte,
Metalloberfläche, ISSN 0026-0797, Mai 2007, Vol. 61, 38-41

11.  Feige V.K.S.:
Präzise Schichtdickenmessung für fachgerechte Beschichtung,
Schiff & Hafen, Januar 2008, Nr. 1, 32-33

12.  Feige V.K.S.:
Schichtdicken-Inspektion im Korrosionsschutz -
Messen unter schwierigen Bedingungen,
Journal für Oberflächentechnik spezial, Korrosionsschutz 2008, 20-23

13.  Feige V.K.S.:
Schichtdicken-Inspektionen von Schiffsbeschichtungen im Brennpunkt internationaler Standards,
Metalloberfläche, ISSN 0026-0797, Jan.-Feb. 2009, Vol. 63, 30-32

14.  DE102008059032 (B4)
Titel: Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung ob eine Veränderung eines Substrats unter einer das Substrat bedeckenden Schicht vorliegt
bzw., Method for determining whether variation of substrate i.e. steel body of motor vehicle, lies below covering layer, involves determining whether relation between measurements corresponds with reference relation, and detecting deviation,
Anmelder: Automation Dr. Nix GmbH & Co. KG, 50739 Köln;
Erfinder: Dr.-Ing. Gerrit Gehnen und Dr.-Ing. Volker K.S. Feige
Anmeldedatum 26.11.2008 mit 09.09.2008 (Innere Priorität)
Veröffentlichungsdatum 15.04.2010

15.  Feige V.K.S.: Doppelter Durchblick: Funkbasierte Messsonden zur Schichtdickenmessung an Stahlkonstruktionen, Instandhaltung, ISSN 0170-6993, Jg. 38, Nr. 3, 2010, 20-21

16.  V.K.S. Feige: Non-destructive coating thickness measurements with terahertz time-domain spectroscopy, 66th Scottish Universities Summer School in Physics (SUSSP66), International Summer School in ultrafast nonlinear optics 2010, Thursday 12th August 2010,

Heriot-Watt University Edinburgh, Scotland, listed in R. Thomson, Ch. Leburn, D. Reid: Ultrafast Nonlinear Optics, Springer Heidelberg New York, p. 352, (2013) (Poster)

17.  WO2012167907 (A1): Device and method for determining material properties of a substrate sample in the terahertz frequency spectrum,  Inventor(s): Berta Milan; Feige Volker
Applicant(s): Automation Dr Nix Gmbh & Co KG, publication date: 13. Dec. 2012

18.  V.K.S. Feige, S. Nix, F. Ellrich, J. Jonuscheit und R. Beigang:
Non-Contact Multilayer Thickness Measurements with Reflection-Mode Terahertz Time-Domain Spectroscopy, Conference on Lasers and Electro-Optics – European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe and EQEC), paper CC2_5, (2011)

19.  V. K. S. Feige, S. Nix, M. Berta, F. Ellrich, J. Jonuscheit und R. Beigang:
Berührungslose Mehrlagen-Schichtdickenmessung industrieller Beschichtungen mittels
THz-Messtechnik, tm - Technisches Messen, Vol. 79 No.2, pp. 87-94, (2012)

20.  I. Busboom, S. Christmann, H. Haehnel und V.K.S. Feige: Smart Production - Automated non-destructive quality control of coatings on non-metallic substrates,
VDE Summit in Berlin am 13. und 14. November 2018
https://ei.hs-duesseldorf.de/studium/labore/elektronik/meldungen/vde-tec-summit_12-2018?showarrows=1&sid=l4vhoinux1pvtfkx0hnmnmrp

21.  I. Busboom und V.K.S. Feige: Qualität von Beschichtungen automatisiert prüfen,
Nacht der Wissenschaft am 13. Sept. 2019, Stand 2, Aktionszelt Schadowplatz, Düsseldorf

22.  I. Busboom; S. Christmann; H. Haehnel; V.K.S. Feige and B. Tibken: Simulation of terahertz waves in multilayer coatings for non-contact thickness measurements of top layers, Proceedings Volume 11279, Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XIII; 112790J (2020) https://doi.org/10.1117/12.2541298, Event: SPIE OPTO, 2020, San Francisco, California, United States

23.  I. Busboom, S. Christmann, H. Haehnel,  V.K.S. Feige and B. Tibken:
Initial estimation for fast layer thickness determination based on terahertz time-domain spectroscopy, Conference: 9th International Workshop on Terahertz Technology and Applications (2020), Kaiserslautern (Poster)

24.  S. Christmann, I. Busboom, V.K.S. Feige and H. Haehnel:
Towards Automated Quality Inspection Using a Semi-Mobile Robotized Terahertz System,
Third International Workshop on Mobile Terahertz Systems (IWMTS), ISBN: 978-1-7281-5598 (2020)

25.  I. Busboom, T. T. Nguyen, S. Christmann, V. K. S. Feige, H. Haehnel and B. Tibken: Terahertz Imaging of 3D Print Infill Structures, EuCAP 2021, Düsseldorf, Deutschland, 2021.

26.  I. Busboom, N. Rohde, S. Christmann, V. K. S. Feige, H. Haehnel and B. Tibken: Towards neural network classification of terahertz measurements for determining the number of coating layers, IRMMW-THz, Buffalo, 2020.

27.  S. Christmann, M. Löhr, I. Busboom, V. K. S. Feige and H. Haehnel: Towards Real-Time Human-Machine Interfaces for Robot Cells Using Open Standard Web Technologies, Kommunikation in der Automatisierungstechnik (KommA), Lemgo, 2020.

28.  S. Becker, J. Beckmann, O. Cojacari, V. Feige, B. Fischer, F. Friedrich, B. Globisch, G. Hechtfischer et al.: Terahertzsysteme - Zeitbereichsspektrometer (TDS-Systeme), VDI/VDE-Richtlinie, VDI/VDE-Handbuch Optische Technologien (2020)

29.  Imke Busboom, Simon Christmann, Hartmut Haehnel, Volker K. S. Feige, and Bernd Tibken: Simultaneous estimation of thickness and refractive index by combining transmission and reflection measurements, Proc. SPIE 11685, Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XIV, 116851L (March 2021); https://doi.org/10.1117/12.2577601

30.  Simon Christmann, Imke Busboom, Dennis Fertsch, Carsten Gallus, Hartmut Haehnel, Volker K. S. Feige: Imaging using terahertz time-domain spectroscopy in motion, SPIE OPTO, Proceedings Volume 11685, Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XIV; 1168506 (2021) https://doi.org/10.1117/12.2577744